探知微觀領域!
掃描探針顯微鏡(SPM),又稱原子力顯微鏡(AFM),是利用細微的探針,在樣品表面掃描,進行高放大倍率觀察三維形貌的顯微鏡。SPM-9600是以快速觀察,操作簡單而擁有優(yōu)良聲譽的新一代SPM。
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主要技術規(guī)格
測定模式 | 標準:接觸、動態(tài)、相位 |
選配模式:力調制模式、電流模式、磁力(MFM)模式、表面電位模式(KFM)、水平力模式(LFM) | |
分辨率 | 水平0.2nm 垂直0.01nm |
最大掃描范圍(X/Y/Z) | 30μm×30μm×5μm(標準) |
125μm×125μm×7μm(選配) | |
55μm×55μm×13μm(選配) | |
最大樣品形狀 | |
樣品裝載方式 | 頭部滑動機構 |
分束器滑動機構 | 內置在AFM頭內 |
■ 設置室的環(huán)境
設置室理想的空調條件如下。
溫度 23°±5℃
濕度 60%以下
■ 電源
運行本裝置需要如下電源。
單相 100V-120V 50/60Hz 10A 1路
接地 第3種地線
■ 裝置的尺寸和重量
SPM單元 W180×D255×H260mm 5.5kg
控制單元 W250×D420×H454mm 18.5kg